电阻抗断层成像技术进展

点赞:3985 浏览:12520 近期更新时间:2024-04-15 作者:网友分享原创网站原创

摘 要 :电阻抗断层成像(EIT)是一种重要的医学成像方法,通过对物体表面的分布电测量来获知物体内部的电特性图像,有着良好的应用前景.本文对EIT的硬件系统和成像算法的研究进展作了全面的描述.首先对硬件部分的信号源和驱动模式进行了介绍,并对目前使用的EIT系统作了简要的分析;然后介绍了成像算法,从二维和三维成像两个方面对目前EIT的重建算法进行阐述.最后,对EIT进行了讨论和总结.


关 键 词 :电阻抗断层成像;硬件系统;成像算法

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中图分类号:R318.6 文献标识码:A 文章编号:1673-6273(2009)06-1189-03